日本KETT LE-200J/LH-200J膜厚测试仪 特点：
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测试单位 显示方式 操作面板 附属品 电源 体积 重量 LE-200J 测试单位 显示方式 操作面板 附属品 电源 体积 重量 LH-200J 测试单位 显示方式 操作面板 附属品 电源 体积 重量
测定方法 电磁式及高频涡流式 测定对象 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层 测定范围 电磁式：0～1500um或0～60.0mils 高频式：0～800um或0～32.0mils 测定精度 电磁式：<15um±0.3um >15um±2% 高频式：<50um±1um >50um±2% 分辨率 <100um 0.1um >100um 1um 界限设定 可设定上/下限数值
公/英制互换 LCD数显 密封防水按键 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 80（W）×80（D）×30（H） 1100g
特点：
本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法 电磁式 测定对象 磁性金属上非磁性涂镀层 测定范围 0～1500um或0～60.0mils 测定精度 <15um±0.3um >15um±2% 分辨率 <100um 0.1um >100um 1um 界限设定 可设定上/下限数值
公/英制互换 LCD数显 密封防水按键 铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 80（W）×80（D）×30（H） 1100g
特点：
本仪器采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法 高频涡流式 测定对象 非磁性金属上绝缘层 测定范围 0～800um或0～32.0mils 测定精度 <50um±1um >50um±2% 分辨率 <100um 0.1um >100um 1um 界限设定 可设定上/下限数值
公/英制互换 LCD数显 密封防水按键 铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 80（W）×80（D）×30（H） 1100g
